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電性能測(cè)試

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀耐壓試驗(yàn)儀電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀高壓擊穿測(cè)試儀介電強(qiáng)度測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)試儀高絕緣電阻測(cè)試儀導(dǎo)體直流電阻測(cè)試儀漏電起痕儀介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)試儀體積表面電阻率測(cè)試儀

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ZST-212體積電阻率測(cè)定儀表面電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-11-19

型號(hào)：ZST-212

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航天偉創(chuàng)ZST-212 全自動(dòng)體積表面電阻率測(cè)試儀體積電阻率測(cè)定儀表面電阻測(cè)試儀適用于測(cè)試固體、液體、粉體的體積電阻率、表面電阻率、絕緣電阻，精度高達(dá)1%。
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ZST-212薄膜體積表面電阻測(cè)試儀航天偉創(chuàng)

更新時(shí)間：2024-11-15

型號(hào)：ZST-212

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薄膜體積表面電阻測(cè)試儀航天偉創(chuàng)用于測(cè)量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；該儀器具有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試完畢后高壓短路放電保護(hù)等優(yōu)點(diǎn)，儀器的最一高量程10^17Ω電阻值。
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ZST-212絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀高阻計(jì)

更新時(shí)間：2024-11-12

型號(hào)：ZST-212

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ZST-212絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀高阻計(jì)用于測(cè)試電工電子絕緣材料的絕緣性能。
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LDJD-CPCB板介電常數(shù)測(cè)定儀介質(zhì)損耗因素測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-11-02

型號(hào)：LDJD-C

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LDJD-CPCB板介電常數(shù)測(cè)定儀介質(zhì)損耗因素測(cè)試儀的諧振點(diǎn)頻率自動(dòng)搜索或電容自動(dòng)搜索功能，能夠快速的找到被測(cè)量器件的諧振點(diǎn)，自動(dòng)讀出Q值和其他參數(shù)。
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LDJD-B薄膜介電常數(shù)測(cè)定儀阻抗分析儀 LCR表

更新時(shí)間：2024-11-02

型號(hào)：LDJD-B

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LDJD-B薄膜介電常數(shù)測(cè)定儀阻抗分析儀 LCR表以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號(hào)源，頻率達(dá)70MHz/110MHz /160MHz，信號(hào)源具有信號(hào)失真小、頻率精確、信號(hào)幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn)，更保證了測(cè)量精度的精確性。
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LDJD-A液體介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)損耗測(cè)定儀

更新時(shí)間：2024-11-02

型號(hào)：LDJD-A

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LDJD-A液體介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)損耗測(cè)定儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
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LDJC-100F高精度無(wú)級(jí)調(diào)壓電壓擊穿試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-10-23

型號(hào)：LDJC-100F

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LDJC-100F高精度無(wú)級(jí)調(diào)壓電壓擊穿試驗(yàn)儀采用高精度電子調(diào)壓器，電壓測(cè)試精度達(dá)到1%，升壓速率無(wú)級(jí)可調(diào)。
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LDJC-100kV計(jì)算機(jī)控制電壓擊穿試驗(yàn)儀電氣強(qiáng)度測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-10-22

型號(hào)：LDJC-100kV

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北京航天偉創(chuàng)的LDJC-100kV計(jì)算機(jī)控制電壓擊穿試驗(yàn)儀電氣強(qiáng)度測(cè)試儀，可以測(cè)試各種絕緣材料在不同環(huán)境條件下的電氣強(qiáng)度，幫助明確改善材料制造工藝和結(jié)構(gòu)的研究方向。
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