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薄膜體積表面電阻測試儀 航天偉創(chuàng)

簡要描述：薄膜體積表面電阻測試儀 航天偉創(chuàng)用于測量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；該儀器具有測量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡單、測試完畢后高壓短路放電保護等優(yōu)點，儀器的最一高量程10^17Ω電阻值。

  • 產(chǎn)品型號：ZST-212
  • 廠商性質：生產(chǎn)廠家
  • 更新時間：2024-11-15
  • 訪  問  量：70

詳細介紹

品牌航天偉創(chuàng)產(chǎn)地類別國產(chǎn)
類型其他應用領域電子,航天,汽車,電氣,綜合
電阻測試范圍10^4~10^17操作方式觸摸屏
測試線三同軸屏蔽線纜測試模式體積電阻率、表面電阻率、絕緣電阻

 產(chǎn)品簡介

 薄膜體積表面電阻測試儀 航天偉創(chuàng)用于測量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；該儀器具有測量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡單、測試完畢后高壓短路放電保護等優(yōu)點，儀器的最一高量程10^17Ω電阻值。

 

技術參數(shù)

電阻范圍：（104 ～10 17）Ω。

電阻測量誤差：    1×104～1×109 Ω±1%；

  1×109～1×1012 Ω±1.5%；

1×1012～1×1017 Ω±5%；         

    測試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V。

絕緣電阻

 

通常采用絕緣電阻測試儀(又稱高阻計、兆歐表)進行測量。規(guī)定以加電壓60s后測得的數(shù)值為該試品的絕緣電阻。

當被試品絕緣中存在貫通的集中性缺陷時，反映Ig的絕緣電阻往往明顯下降，于是用絕緣電阻表檢查時便可以發(fā)現(xiàn)。但對于許多電氣設備，例如電機，反映Ig的絕緣電阻往往變動甚大，因為它總和被試品的溫度及體積尺寸有關系，往往難以給出一定的絕緣電阻判斷標準。通常把處于同樣運行條件下的不同相的絕緣電阻進行比較，或是把這一次測得的絕緣電阻和過去在相近溫度下對它測出的絕緣電阻進行互相比較來發(fā)現(xiàn)問題。

需要注意的是，有時，雖然某些集中性缺陷已發(fā)展得很嚴重，以致在耐電壓試驗中被擊穿，但耐電壓試驗前測出的絕緣電阻值和吸收比卻都很高，這是因為這些缺陷雖然嚴重，但還沒有貫通的緣故。因此，只憑絕緣電阻的測量來判斷絕緣是不可靠的，但它畢竟是一種簡單而有一定效果的方法，故使用十分普遍。

常用接線方法

ZST-212薄膜體積表面電阻測試儀 航天偉創(chuàng)用三電極系統(tǒng)測試絕緣材料的體積電阻和表面電阻。

屏蔽箱內三個接線端子，左側測試端插黑線，接下電極（直徑最大的圓柱電極），中間插入圓柱電極（測試電極），右側插紅線，接圓環(huán)電極。



 

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